方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | 物理性质>外观/形貌/宽高比, 缺陷(岛状结构)密度 |
参考标准 | / |
本文介绍了运用微焦点X射线检查装置Xslicer SMX-6010透视功能可以轻松获得高分辨率图像。使用选配VCT装置可以对小型零部件等可以观察缺陷,通过专用软件VG STUDIOMAX进行详细的3D解析,直观观察小型零部件中的缺陷
微焦点X射线检查装置Xslicer SMX-6010透视功能可以轻松获得高分辨率图像。使用选配VCT装置可以对小型零部件等可以观察缺陷,进行详细的3D解析,可用于每天的检查和质量管理等。
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