解决方案|ICP-OES法测定氮化硅中铁元素含量

2022/12/02   下载量： 1 次

方案摘要

方案下载
应用领域 石油/化工
检测样本 氧化物
检测项目 其他
参考标准 无

一般测定微量金属元素含量的方法有原子吸收法、电感耦合等离子体发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法等。电感耦合等离子体发射光谱法因具有检测限低、精密度好、准确度高且可同时测定多个元素等优点，而得到分析工作者的青睐。本文利用ICP-7760HP型全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）建立氮化硅粉末材料中铁元素的含量的方法，可供相关分析人员参考。

方案下载
配置单
方案详情

氮化硅（Si3N4），一种新型耐火材料，它具有高密度、耐腐蚀和耐高温等特点,广泛应用于冶金工业、机械工业、半导体、航空、原子能工业及医疗器械行业。研发发现，氮化硅的高温性能等特性随着某些金属微量金属元素含量的减少而明显改善，所以对其中的微量金属如铁（Fe）进行准确的分析有着重要的意义。


上一篇 解决方案|ICP-TOF-MS法测定水样中B、Al、V、Cr、Cu、Zn等元素
下一篇 解决方案|离子色谱法测定消毒副产物氯酸盐、亚氯酸盐、溴酸盐、二氯乙酸、三氯乙酸

文献贡献者

北京东西分析仪器有限公司
钻石会员 丨 第22年
查看全部资料
相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置： 北京东西分析仪器 方案 解决方案|ICP-OES法测定氮化硅中铁元素含量

关注

拨打电话

留言咨询