赛默飞Nexsa X 射线光电子能谱仪_价格-赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)

核心参数

产地类别：进口

创新点

新推出的Nexsa系统首次实现了K-Alpha+全自动、高样品通量设计与ESCALAB Xi+多技术集成功能的高效结合。Nexsa客户可根据实际科研或测试需求，搭配具有不同特色的XPS表面分析平台，如：紫外光电子能谱（UPS）、拉曼光谱（Raman）、离子散射普（ISS）、反射式电子能量损失谱（REELS）等，无需移动或转移样品，可在样品同一位点进行原位分析，实现真正意义上的多技术联合分析。同时，还可搭配Ar气体团簇复合离子源，样品倾斜、偏压模块，以及快速平行成像（SnapMap）功能。利用新款Nexsa系统，可实现以下功能： 1，高性能XPS分析：单色化、微聚焦X射线光源，高灵敏度高分辨率； 2，微区/选区分析：光斑连续可调，微聚焦最小光斑至10μm； 3，全自动分析：自动识谱，自动添加元素区间，自动生成报告，一键式操作； 4，大批量测试：样品台面积3600 mm2，样品厚度最大20 mm，可一次性测试几百个样品； 5，绝缘体样品准确分析：自动化同轴双束中和源，确保无阴影效应，无荷电效应； 6，大气敏感样品分析：真空传输模块，集成手套箱，确保不暴露大气； 7， Ar单粒子/团簇复合离子源：同一位点两种模式随时切换，不同硬度材料的深度剖析 8，平行成像：三重相机光学系统，快速（秒级）成像，动态变化实时观测； 9， UPS：费米能级，功函数，占据态能级等信息分析； 10， ISS：最表面原子层元素信息分析，同位素分析； 11， REELS：氢元素分析，HOMO-LUMO带隙分析等； 12， Raman：原位分子结构分析，材料特性确认等；

产品详情

Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时，保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身，用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析，从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。

描述

材料分析和开发

Nexsa 能谱仪具有分析灵活性，可最大限度地发现材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。

标准化功能催生强大性能：

· 绝缘体分析

· 高性能XPS性能

· 深度剖析

· 多技术联合

· 双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

· 用于 ARXPS 测量的倾斜模块

· 用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

· 小束斑分析

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

· ISS：离子散射谱，分析材料最表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

· UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

· 拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

· REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

SnapMap

借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成完全聚焦的 XPS 图像，以进一步设置您的实验。

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动，不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置，这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap

应用领域

· 电池

· 生物医药

· 催化剂

· 陶瓷

· 玻璃涂层

· 石墨烯

· 金属和氧化物

· 纳米材料

· OLED

· 聚合物

· 半导体

· 太阳能电池

· 薄膜

赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)为您提供赛默飞Nexsa X 射线光电子能谱仪，赛默飞Nexsa产地为英国，属于进口X光电子能谱仪(XPS/ESCA)，除了Nexsa X 射线光电子能谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供null,赛默飞元素分析客服电话400-803-2776，售前、售后均可联系。

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行业应用

XPS分析钠离子电池正极材料中异物及杂质成分

能源/新能源 2021/09/03

典型用户

用户单位	采购时间
中山大学	2017/12/01

型号：	Nexsa
产地：	英国
品牌：	赛默飞
评分：
应用领域：	共1个查看经典案例
荣誉奖项：