方案摘要
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摘要 本文研究了ICP－AES法测定GH169中Mn, P, Si, Cr, Ni, Co, B, Mo, Al, Ti, Cu等十一个元素的分析方法。选择了最佳的分析谱线及合适的仪器工作条件，进行了方法的重现性试验和准确度、精密度试验，方法精度小于10％，方法准确，操作简便，完全满足生产要求。
文献贡献者
Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOₓ成分半导体器件
XPS在半导体材料的应用
X射线衍射仪对药品的动态研究
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