Avantage 软件之带隙测量功能

2018/11/12   下载量： 4 次

方案摘要

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应用领域 半导体
检测样本 其他
检测项目
参考标准 Avantage，XPS数据处理，带隙测量，ESCALAB Xi+光电子能谱仪，

Avantage 软件配有丰富的 XPS 相关数据处理功能，其中带隙测量便是功能之 一。该功能提供了一种能量损失初始位置的自动测量方法。此种方法是建立在 “光电子先进行物质带隙的克服随后才会出现非弹性能量损失现象”的假设基础 上，通过对能量损失峰进行拟合和进一步的斜率计算得到能量损失的起始位置 进而求得带隙。

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文献贡献者

赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)
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