方案摘要
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| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | XPS，中和枪 |
XPS 分析采谱设置中的（standard）标准模式和（standard Electrostatic）静电模式的区别以及中和枪模式选择的注意事项。
我们一般所说的标准模式也就是我们常说的磁透镜模式，这个模式下磁透镜工作，可以对样品表面发射的电子进行汇聚进入分析器，以实现更高计数率的XPS 分析，得到数据信噪比比较好，比较少的时间就可以得到高质量图谱。但是毕竟标准模式下是靠磁场形成透镜的汇聚效果，如果待测样品带磁性就会影响其正常工作，所以磁透镜模式下对磁性样品进行测试可能得到的数据失真。
而我们所说的静电模式，指的是不开磁透镜，只靠电子透镜收集电子的工作方式，大家自然可以理解为什么其计数率相比于磁透镜模式会大大降低了。因为缺少了磁透镜进行大角度的汇聚，基本上只有冲着分析器正负30 度范围内的电子才能进入分析器。静电模式的设计主要是针对磁性样品采谱时使用。注意：静电模式虽然是针对磁性样品测试设计的，但是样品要进行静电模式分析必须要先消磁！那么碰到样品需要中和，中和枪使用的两种模式和采谱的两种模式怎么结合呢？显然，standard 对应standard，Electrostatic 对应Electrostatic，如果两者交叉使用了就会使数据失真。
那是什么原因会造成失真呢？会有什么影响呢？正好趁此机会和大家讲讲。
文献贡献者
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XPS在半导体材料的应用
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