内容简介:
由于纳米材料的特殊结构和性质,已经越来越多的被应用于工业和生活的各个领域,而已有的对于纳米颗粒表征和检测的手段并不适于常规监测。利用单颗粒纳米材料检测技术,仅通过一次 ICP-MS 快速分析就可以同时测定一种样品中的纳米颗粒粒径和粒径分布、元素组成、浓度(颗粒数/体积和质量/体积)以及溶解态金属浓度。本次研讨会主要给大家介绍Agilent 7900 ICP-MS 在单颗粒纳米材料检测中的原理和应用。
主讲人介绍:
贠照军博士,安捷伦公司应用工程师,从事 ICP-MS 的应用支持工作,负责 ICP-MS 在各行业的应用及新方法的开发。
会议时间:
2015年08月25日(星期二)北京时间10:00-11:00am
会议链接:
https://agilenteseminar-sc.webex.com/agilenteseminar-sc/onstage/g.php?d=960219757&t=a
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