使用双 FID 和微板流路技术中心切割在室温下分析 C1-C10 烃类, 包括 C1-C6 链烷烃/烯烃异构体的分离

2018/05/27   下载量: 23

方案摘要

方案下载
应用领域 石油/化工
检测样本 其他
检测项目 含量分析>烷烃, 环烷烃
参考标准 暂无

使用配置双 FID 的微板流路控制技术中心切割提供了一种分析保留特性不同的各种化合物的有效方法,该方法可实现快速、 灵活的分析,设置简单,且无需对气相和液相样品进行低温冷却,实现了单次进样中无需低温冷却即可分析 C1–C10 烃类。

方案下载
配置单
方案详情

    摘要

    使用微板流路控制技术(CFT) 中心切割开发出一种在单次进样中无需低温冷却即可分析C1–C10 烃类的方法。本应用简报介绍了一种对气相和液相样品中的C1–C6 链烷烃/烯烃和扩展烃类的高分离度分析方法。

    前言

    在分析沸点范围很宽的烃类样品时,通常使用非极性毛细管柱根据沸点特性分离烃类。沸点色谱柱为重烃组分提供了良好的分离度。然而,在存在高浓度C1-C4 烃类时,轻烃组分的分离度较差。沸点色谱柱也并非分离C4/C5 烯烃的理想色谱柱选择。PLOT 色谱柱为轻烃组分提供了更高的分离度,但是它们对于重质组分存在回收率问题,难以进行重烃分析。该问题的一种解决方案是采用配置沸点色谱柱和PLOT 色谱柱的CFT 中心切割装置。沸点色谱柱用于分离重烃组分,而PLOT 色谱柱用于分离轻烃组分。

    结论

    使用配置双FID 的微板流路控制技术中心切割提供了一种分析保留特性不同的各种化合物的有效方法。极性与非极性分析均可获益于这项技术。该方法可实现快速、灵活的分析,设置简单,且无需对气相和液相样品进行低温冷却。


上一篇 使用 Agilent 5800 ICP-OES 测定固态 电解质锂镧锆钽氧 (LLZTO) 中的 主量元素
下一篇 使用 5977A 系列 GC/MSD 依据 EPA 8270 方法分析半挥发性有机化合物

文献贡献者

相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置: 安捷伦 方案 使用双 FID 和微板流路技术中心切割在室温下分析 C1-C10 烃类, 包括 C1-C6 链烷烃/烯烃异构体的分离

关注

拨打电话

留言咨询