纳米材料null检测 | 使用 Agilent 7800 ICP-MS 分析 10 nm 金纳米颗粒-安捷伦科技(中国)有限公司

方案摘要

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应用领域	材料
检测样本	纳米材料
检测项目
参考标准	暂无

高灵敏度和低背景噪音对 ICP-MS 法检测小纳米颗粒至关重要。纳米颗粒电离生成的信号随粒径的立方而减小。这就要求检测极小颗粒（如 10 nm Au 颗粒 (NIST 8011)）时，ICP-MS 仪器的灵敏度远高于检测一般 NIST 参比物质（如 NIST 8012 (30 nm) 和 8013 (60 nm)）时的要求。本研究证明了 Agilent 7800 ICP-MS 能够轻松达到测定 10 nm Au 纳米颗粒所需的信噪比，无需复杂的反应池气体或定制调谐条件即可实现。所采用的标准操作条件可轻松应用于含有其他元素（例如 Ag）的纳米颗粒。

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方案详情

前言

高灵敏度和低背景噪音对 ICP-MS 法检测小纳米颗粒至关重要。纳米颗粒电离生成的信号随粒径的立方而减小。这就要求检测极小颗粒（如 10 nm Au 颗粒 (NIST 8011)）时，ICP-MS 仪器的灵敏度远高于检测一般 NIST 参比物质（如 NIST 8012 (30 nm) 和 8013 (60 nm)）时的要求。

本研究证明了 Agilent 7800 ICP-MS 能够轻松达到测定 10 nm Au 纳米颗粒所需的信噪比，无需复杂的反应池气体或定制调谐条件即可实现。所采用的标准操作条件可轻松应用于含有其他元素（例如 Ag）的纳米颗粒。

结论

本研究创建了一种检测和表征 10 nm Au 纳米颗粒以及 10 nm 与 30 nm 纳米颗粒混合物的简单方法。

该方法将无气体模式与 ICP-MS MassHunter 简单而功能强大的单颗粒应用模块相结合，利用了 Agilent 7800 ICP-MS 高灵敏度和易于优化的特点。

借助方法向导，只需轻点几下鼠标即可完成方法开发，之后便能够自动分析短样品序列。

单颗粒分析的速度非常快，每个样品通常仅需 60 秒。本简报介绍了包括校准、雾化效率测定和样品分析在内的整个序列，用时少于半小时。

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文献贡献者

安捷伦科技(中国)有限公司

钻石会员丨第23年

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