使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析

2020/12/11   下载量: 1

方案摘要

方案下载
应用领域 石油/化工
检测样本 涂料
检测项目
参考标准 /

配备固体进样器的 Agilent Cary 7000 UMS 已成功用于薄膜基底的大样品表征。自动进样器以空间映射模式运行,适用于 ZTO 研究。通过采集透射光谱,将 ZTO 基底的带隙能量映射在晶圆的整个直径范围上。数据显示出一些差异,例如晶圆顶部由沉积过程造成了最高的 Zn 浓度,因而频率较低。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。 Cary 7000 UMS 和固体进样器有望成为用于光学材料、涂层以及工业和实验室各种应用中组分表征的重要工具。

方案下载
配置单
方案详情

配备固体进样器的 Agilent Cary 7000 UMS 已成功用于薄膜基底的大样品表征。自动进样器以空间映射模式运行,适用于 ZTO 研究。通过采集透射光谱,将 ZTO 基底的带隙能量映射在晶圆的整个直径范围上。数据显示出一些差异,例如晶圆顶部由沉积过程造成了最高的 Zn 浓度,因而频率较低。

在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。

Cary 7000 UMS 和固体进样器有望成为用于光学材料、涂层以及工业和实验室各种应用中组分表征的重要工具。

上一篇 Agilent Vaya 手持式拉曼光谱仪的 不透明容器分析能力
下一篇 采用 Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 测量超过 10 Abs 的光密度

文献贡献者

相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置: 安捷伦 方案 使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析

关注

拨打电话

留言咨询