赛默飞EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪_价格-赛默飞世尔科技分子光谱

核心参数

产地类别：进口

创新点

最先进的成像探测器设计，用于定量XPI成像：电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术，一方面使得XPI成像分辨率达1um，另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。可选配的EDS探测器，实现体相分析技术和表面分析技术的结合：新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合，可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析，EDS可探测微米深度的元素组成，可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术，用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析： REELS可以探测材料的能级和带隙结果，并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息，并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+，设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统，高温高压催化还原反应系统和样品退火系统，满足不同的科研项目需求。

产品详情

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi⁺是最新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后，具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置，带给用户的是世界级领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。

世界领先的分析性能

●表面元素定性、定量分析

世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率

●快速高分辨平行成像

化学成像: 空间分辨率优于1um

回溯成谱: 回溯区域优于6um

●无需背底修正探测器

电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。

空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，同时所得数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。

●微聚焦单色源

分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调

卓越的灵敏度和能量分辨率

提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换

●自动化高效离子剖析源

新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究

●高精确度角分辨XPS

软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性

全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算

●一键式荷电补偿

配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。

适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和

●强大的Avantage分析软件

全数字化仪器控制

系统软件可视化操作

全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库

自定义数据采集到报告生成模式

操作简便

●高度自动化

分析区域和角度分辨可选

自动化气体调节和真空控制

●随时校准

能量标尺和仪器功函数的校准

离子枪定位和离子束聚焦

●鼠标点击式样品导航

实时显示分析位置

高照明强度、强度可调

设计灵活

●ISS、ARXPS与REELS为标准配置

●多功能进样室为标准配置

●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选

●可选的样品预处理附件，包括：

样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器

样品加热/冷却装置

溅射清洁离子枪

蒸发器

高压反应室

赛默飞世尔科技分子光谱为您提供赛默飞EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪，赛默飞 EscaLab Xi+产地为英国，属于进口X光电子能谱仪(XPS/ESCA)，除了EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供null、null,赛默飞世尔分子光谱客服电话400-858-8867，售前、售后均可联系。

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型号：	EscaLab Xi+
产地：	英国
品牌：	赛默飞
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