双束电镜网络研讨会仅剩5个席位，速来报名

赛默飞世尔科技分子光谱

2018/05/04 10:49

科学家和工程师不断面临新的挑战，需要对日益复杂、特征越来越小的样品进行高度局部化表征。thermo scientific™ scios™ 2 dualbeam 系统在最广泛样品类型的样品制备以及次表面和三维表征方面具有一流的性能。 scios 2 dualbeam 系统的最新技术创新，结合最简单易用、最全面的thermo scientific autotem™ 4 软件（可选）和赛默飞世尔科技 (thermo fisher scientific) 的应用专业知识，可以针对广泛类型的材料快速、轻松地定点制备hr-s/tem样品。

为更好地了解样品的结构和属性，通常需要进行次表面或三维表征。scios 2 dualbeam 与thermo scientific auto slice & view™ 4 (as&v4) 软件可最高质量地全自动采集多模式 3d 数据集，包括最大材料对比度的 bse 成像、有关成分信息的能谱 (eds)、有关微观结构和结晶信息的背散射电子衍射 (ebsd)。

一、会议安排如下：

会议时间：2018年5月10日星期四上午10:00（以此时间为准）

二、研讨会内容：

在这次研讨会中，您将学习如何：

使用 Scios 2 DualBeam 和 AutoTEM 4 软件，在不到一小时的时间内轻松制备高质量的位点特异性 TEM 样品。
使用 Auto Slice & View 4 软件执行从微米到纳米级别的次表面和三维表征。
采用 Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒，在最广泛类型的样品（包括磁性和非导电材料）上实现超高分辨率成像，对比度清晰、精良且不受电荷影响。

三、报名方式

点击下方链接进行在线注册：

https://register.gotowebinar.com/register/6411491285286991619

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