比背向光散射更优秀的粒度分析技术

2004-01-15 13:02  下载量:492

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制造商们采取了不同的办法来克服这些限制,也取得了一定程度的成功,多数都是集中在背散射光的测试上,同时这些策略没有完全解决问题,这应该是一个障碍。 基于这个原因,美国贝克曼库尔特公司开发出了高分辨率亚微粒子粒径分析的PIDS技术,首次完全解决了亚微粒子粒径分析的问题。 PIDS技术非常简单,并且具有安装容易的以及能够用光散射的Mie理论解释的优点。

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