ellipsometer application for PDP - Plasma Display Panel

2004/08/02   下载量： 1589 次

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参考标准 无

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪可以对PDP结构样品进行分析,得到结构中各层的厚度、折射率的变化.

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文献贡献者

HORIBA（中国）
白金会员 丨 第22年
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