方案摘要
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测试仪器: X线衍射仪RINT-UltimaⅢ/ RINT-TTRⅢ+小角附件+ 粒径・空孔径解析软件NANO-Solver 想得到什麽? 金属及陶瓷纳米粒子分散在薄膜中、至此以前根据TEM剖面图,估算粒子大小分布,又花费精力和时间。 采用X线小角散射法,不需切断薄膜,做前处理、使用15mmX2mm程度的样品、可在几10分钟内进行测试・解析。
株式会社理学:可在10分钟内无损测试药片中多晶不纯物量
株式会社理学:白金纳米粒子凝聚温度及氛围气的影响
株式会社理学:采用X线小角散射法评价亚纳米金粒子大小分布
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