资料摘要
资料下载石墨烯的缺陷导致1580 cm-1附近的G拉曼谱带位置发生细微变化。高空间分辨率、大尺寸的拉曼成像可以一目了然的看到次层石墨烯的生长缺陷。 无损 无需样品制备 可以看到微小区域
采用Renishaw inVia Raman对SiC进行分析
简介:碳化硅具有宽的带隙、高的导热性和较高的击穿场等显著的优点,而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管(JFET、MOSFET、ETS)中(如高温电子器件)以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 碳化硅的性能在很大程度上取决于它的晶体结构(它可以存在于多种类型)、晶体的质量以及缺陷的数量和缺陷类型。生产碳化硅原料和设备的企业需要对这些属性进行监控,以提高产量。 控制这些参数的第一步是重复和量化地测量它们。Renishaw的拉曼系统非常适合这种情况。分析从碳化硅的拉曼谱图,可以确定晶体的形状、质量和缺陷的形貌。您可以轻松、快速和无损地完成这项工作。可以分析整个晶圆,可以二维显示表面或者三维显示表面下的信息。
神经胶质瘤细胞及其细胞器的共焦 3D 拉曼和 AFM 图像
简介:共焦3D拉曼和AFM成像在一起,造就一个了解癌的细胞生物学的强有力的工具. 共焦 3D 拉曼成像揭示核周围的细胞成分的化学特性,使能把它们归属于细胞膜包裹的细胞器
用于电子显微镜的化学结构分析仪(SCA).(拉曼与电镜联用)
简介:雷尼绍(Renishaw)用于电子显微镜的化学结构分析仪(SCA))(拉曼与电镜联用)可以在利用电子显微镜对样品进行观察的同时,利用拉曼光谱测试微区的化学结构信息。做到原位测量。
雷尼绍Renishaw inVia拉曼光谱仪与原子力显微镜AFM联用
简介:雷尼绍Renishaw inVia拉曼光谱仪与原子力显微镜AFM联用仪器展示。可以与多种型号的AFM联用。
使用AFM-拉曼联用系统进行纳米尺度上的研究
简介:使用AFM-拉曼联用系统进行纳米尺度上的研究。主要介绍了可与renishaw inVia显微拉曼联用的AFM的主要厂商及型号(包括但不限于)。
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