组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

参考价:¥20万 - 30万
型号: OmniPL系列
产地: 北京
品牌: 卓立汉光
评分:
应用领域:
核心参数
创新点
PL荧光光谱测量系统是用短波长激光(如325nm/442nm等)激发材料(如GaN/ZnO)产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的光学特性。 PL光致发光光谱测量系统典型应用于LED发光材料、半导体材料的研究。 ★ 常温系统可升级到低温系统
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组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列




光 致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光(如激光器等)激发样品/ 材料(如GaN/ZnO 等)产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。

OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计,在满足PL 光谱测量的同时,用户可以根据不同的实验需求,选择不同的配件,灵活的进行系统功能的扩展。


系统组成:激发光源+ 样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机


OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数
● 激发光源:HeCd激光器
● 激发光功率:20mW
● 激发波长:325nm
● 瑞利散射截止滤光片,OD>6
● 荧光光谱仪光谱范围:300-850nm(可扩展至2500nm)
● 荧光光谱分辨率:优于0.2nm(@1200g/mm光栅)
● 波长准确度:±0.2nm
● 波长重复性:±0.1nm
● 光探测器:科研级制冷型背感光CCD,300-1000nm
● 可选配闭循环超低温制冷机,最低温度可达2K
● 系统扩展性:系统采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量
● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱




北京卓立汉光仪器有限公司为您提供卓立汉光组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列,卓立汉光OmniPL系列产地为北京,属于国产分子荧光光谱,除了组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供探测器光谱响应测量系统、眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统、荧光光谱测量系统,卓立汉光客服电话400-628-5299,售前、售后均可联系。

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