利用高光谱成像技术对贡梨损伤与农药残留检测研究

2017-08-04 16:17  下载量:6

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高光谱成像技术应用于水果表面损伤、农药残留已体现出其“图谱合一”的优越性。水果轻微损伤和农药的微量残留往往发生在表皮之下,和正常区域的颜色相差不大,肉眼难以识别。随着时间的推移,损伤区域会逐渐褐变,最后导致整个水果腐烂,甚至影响其他果实,而少量的农药则会渗透进入果实中,消费者吃了会导致中毒。本研究结果表明,运用高光谱成像技术,运用主成分分析、腌膜等方法等,可以有效地提取水果损伤与农药残留区域,从而达到快速检测的目的。本文采用高光谱图像技术检测不同水果的损伤区域和农药残留区域,以实现损伤区域和农药残留区域共同识别的目的。 ?

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