激光粒度仪作为一种新型的粒度测试仪器,已经在粉体加工、应用与研究领域得到广泛的应用。它的特点是测试速度快、测试范围宽、重复性和真实性好、操作简便等等。
激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。
当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,如图8。散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ。散射理论和实验结果都告诉我们,散射角θ的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小;颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。在图8中,散射光I1是由较大颗粒引起的;散射光I2是由较小颗粒引起的。进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样,在不同的角度上测量散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。
此次参与PK激光粒度仪分别是的是来自马尔文的Mastersizer 3000和来自麦奇克Nanotrac Wave
Mastersizer 3000 激光衍射粒度分析仪可为干湿法分散提供快速、精确、便捷的粒径分布测试。 该分析仪可在纳米至毫米粒度范围内进行测量,体积小巧、性能卓越、稳定可靠,可为所有用户提供无需操作者干预的测量。
Mastersizer 3000是世界上最受推崇的颗粒测量仪的最新一代产品。 该仪器各设计阶段均融入了专家工程及应用诀窍,特点如下:
颗粒测量性能领先、体积小巧。
专业、直观的软件,减轻您的工作负担。
灵活的报告格式,可按需显示数据。
快速、有效地湿法分散。
为脆性干粉和粘性干粉提供迅速、可靠的粒度测量。
贯穿始终的Mastersizer技术秘诀,得出值得您信赖的测量结果。
Mastersizer 3000采用激光衍射技术测量粒度。 当激光束穿过分散的颗粒样品时,通过测量散射光的强度来完成粒度测量。 然后数据用于分析计算形成该散射光谱图的颗粒粒度分布。
典型的系统由三个主要元件构成:
光学平台 - 分散的样品穿过光学平台的测量区,在该测量区,激光束照射到颗粒上。 当红光和蓝光照射到样品颗粒时,会在很宽的角度内产生散射,一系列检测器能够准确测量颗粒的散射光强。
样品分散装置(附件)。 样品分散由一系列干湿法分散装置控制。 确保颗粒以正确的浓度以及合适稳定的分散状态传送至光学平台的测量区域。
仪器软件: Mastersizer 3000软件在测量过程中对系统进行控制,并对散射数据进行分析,计算粒度分布。 该软件还可在方法开发过程中提供即时反馈,并为结果质量提供专业建议。
PK
最新动态光背散射技术!
随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年 来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋,早在1990年,超细颗粒分析仪器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研发成功,首次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念,快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年,利 用背散射(Back-scattered)和异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,结合动态光散射理论和先进的数学处理模型,将分析范围延伸至0.8nm-6.5μm,样品浓度更可高达百分之四十,基本实现样品的原 位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率,直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移,综合考虑被测体系的实时温度和粘度,较之于传统的自相关技术,信号强度高出几个数量级。另外,新型“Y”型梯度光纤探针的使用,实现了对样品的直接测量,极大的减少了背景噪音,提高了仪器的分辨率。
主要技术特点:
采用最新的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法;
专利的异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性;
专利的可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度;
超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性;
专利的快速傅利叶变换算法(FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间;
消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度;
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