200kV场发射透射电子显微镜

200kV场发射透射电子显微镜

  • 型号:JEM-2100F
  • 产地:日本
  • 品牌:日本电子/JEOL
  • 性质:生产商
  • 报价:面议

核心参数

产品详情

仪器简介:
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。

JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。



技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm


主要特点:
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

典型用户

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