冷场发射12极子球差校正透射电镜

冷场发射12极子球差校正透射电镜

  • 型号:JEM-ARM300F2
  • 产地:日本
  • 品牌:日本电子/JEOL
  • 性质:生产商
  • 报价:5000万-10000万

核心参数

创新点

1)更稳定的得到冷场发射电子枪; 2)更高级的自动球差校正软件 3)更高效的能谱分析功能

上市时间:2020年2月

产品详情

2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2),该电子显微镜将于2020年2月发布。

JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2).jpg


 主要特点

1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。

新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:

1)提高了能谱分析效率到两倍以上。

2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。

(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)*

*在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时

2 用于物镜的超宽极靴(WGP)能谱分析灵敏度超高,原位扩展极强。

1)WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。

2)WGP极靴宽度可达6mm,更方便进行各种类型的原位实验。

3 JEOL开发的12极子球差(Cs)校正器和自动校正软件。

1)FHP2极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。

2)WGP极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。

3)JEOL COSMO™(自动校正软件)使快速,轻松执行像差校正成为可能。

4 新式冷场发射枪(Cold-FEG)。

GRAND ARM™2配备了新式Cold-FEG,可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。

5 减轻外部干扰的外壳

这种新外壳是减少外部干扰(例如气流,室内温度变化和噪音)的标准。

■ 主要规格

保证分辨率

HAADF-STEM图像:53pm(带ETA校正器和FHP2

电子枪:冷场发射枪(Cold-FEG

加速电压

标准:300kV80kV

能量色散X射线光谱仪

大面积SDD158mm 2):可以使用双探测器


注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

售后服务

  • 免费上门安装:是
  • 保修期:1年
  • 是否可延长保修期:是
  • 保内维修承诺:全免
  • 报修承诺:快速到达
  • 免费仪器保养:每年一次
  • 免费培训:3人技术中心培训
  • 现场技术咨询:有

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