方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | 稀土/稀有金属 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | -- |
摘要：建立了膜去溶一ICP—MS直接测定各种地质样品中微量 的分析方法。详细比较了采用冷却雾室和膜去溶对降低氧化物和氢氧化物干扰的情况。结果表明：采用膜去溶进样可以很好地解决测定地质样品时zr、Nb、Y的氧化物和氢氧化物对A暑的干扰。再结合少量N，的引入还可以进一步提高Ag的检测灵敏度(4倍)和降低氧化物和氢氧化物的干扰(50％)。在冷却雾室(2℃)ICP—MS条件下，zr的氧化物和氢氧化物产率通常在一0．5％ ；而采用膜去溶一ICP MS可以降低至约0．0005％ 。所以，可以采用膜去溶．ICP—MS直接测定各种地质样品中的Ag。在给定的条件下，膜去溶一ICP—MS对Ag的检出限是0．0005 L。结合密闭高温高压消解样品的方法，测定了21种各种类型国际地质标样，确证了本法的可行性。
文献贡献者
解决方案 | 快速溶剂萃取-浓缩法测定聚氯乙烯树脂中甲醇萃取物的含量
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