日前在美国芝加哥市举行的“2006显微镜及显微分析(M&M)会议”上,FEI公司发布了该公司最新一代Helios NanoLab 场发射扫描(FESEM)/聚焦离子束(FIB)“双束”显微镜。
Helios NanoLab是FEI公司新一代的“双束”平台,该产品将超高分辨率(亚纳米级)扫描电子系统、FEI公司广受称赞的Sidewinder聚焦离子束系统和创新的气体化学系统完美地结合在一起,从而为用户提供了一款更为出色的纳米工作平台。
详细新闻内容请参考: http://investor.fei.com/phoenix.zhtml?c=60978&p=irol-newsArticle_print&ID=889507&highlight=
集成能谱场发射扫描电镜Apreo ChemiSEM新品发布会
Spectra ETEM: 用于在纳米和原子尺度上原位动态探索材料变化的环境透射电子显微镜
邀请函丨防腐院金属表面腐蚀微观表征技术研讨会
助力半导体检测,赛默飞将发布全新Helios 6 HD 双束电镜和Metrios 6透射电镜
相关产品
Selectris和Selectris X成像过滤器
Tundra 冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM)
Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜
Talos 透射电镜
Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
Glacios 2 冷冻透射电镜
赛默飞(原FEI) Scios DualBeam 双束电子显微镜
Prisma E SEM
赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
赛默飞(原FEI)Quattro扫描电镜
赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
赛默飞(FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
赛默飞(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜
关注
拨打电话
留言咨询