相约全国电镜年会：赛默飞创新解决方案助力研究分析

赛默飞世尔科技电子显微镜

2019/10/09 20:27

随着研究人员对材料微观结构的深入研究，他们越发需要借助先进的仪器设备来获得高质量的电镜图像，以及同类产品中最好的可视化和分析工具来得到高度精确的数据。简而言之，研究者们需要的是值得信赖的分析结果。

2019年全国电子显微学学术年会将于10月15日-19日在合肥举办。届时，针对前述需求，赛默飞世尔科技会分享一系列解决方案，保证让您眼前一亮。从扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)系列产品到配套的尖端软件系统，赛默飞旨在帮您攻克研究过程中最具挑战的难题。无论是化学分析、元素分析、机械分析或电子分析，赛默飞的高分辨率成像和分析工具都将满足您所有的精度要求。

在即将到来的电镜年会上，我们将进行一系列现场演示和展位展示，分享行业领先的解决方案。激动人心的一周活动主要包括：

No.1

现场演示

大会期间，8场演示，让您深度了解赛默飞新一代电镜解决方案，包括：Spectra S/TEM, ColorSEM技术, 新一代多源等离子体FIB技术，加装双X射线能谱仪的扫描透射电镜，和生命科学领域全新自动化冷冻透射电镜、冷冻断层扫描、单颗粒分析技术。

No.2

午餐讲座

为感谢各位显微工作者的兢业奉献，我们还将于10月16日-18日每天中午在会议酒店举办午餐会。届时，我们将发布几个新的解决方案，其一将有助于加快当前的病理认知和药物研发进程，其二将促进材料在原子水平上的结构表征，其三是能从电镜图像中快速获取更多数据的新方法。请持续关注，拭目以待。

No.3

展位展示

让您全面触及领域前沿，现场演示将纷至沓来，囊括Amira和Avizo软件演示等。

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