新帕泰克公司参加2005国际粉体工业展览会,现场免费测试粒度

德国新帕泰克公司将于2005年6月13日-15日参加“2005国际粉体工业暨散装技术展览会”,届时将携带新帕泰克公司采用PCCS原理的纳米粒度测试仪、快速图像分析仪和全自动干湿二合一激光粒度仪参加展览,并参加环球展览公司主办的现场免费测试活动。


同时,在2005年6月14日上午09:00-11:00, 我司Dr. Ulrich Kesten将进行"Latest achievements in Particle Size Analysis for Laboratory and Process Applications with Laser Diffraction, Ultrasonic Extinction, Image Analysis and Photon Cross Correlation Spectroscopy 利用激光衍射、超声衰减、成像和动态光散射原理进行粒度检测的的实验室用和工业在线用粒度仪的最新进展”演讲,欢迎贵司来人来样现场参观、指导和测试。


展览会地址:上海市浦东龙阳路2345号/上海新国际博览中心
展位号: A200


联系人: 耿建芳 博士 13601782034
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