JW-DX400比表面积分析仪
JW-DX400比表面积分析仪
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JW-DX400比表面积分析仪

参考价:面议
型号: JW-DX400比表面积分析仪
产地: 北京
品牌: 精微高博
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测试效率提高3倍
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产品详情

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确、高效,一小时测试28个标准样品。非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

在-196度低温液氮环境下,通入一定流量比例的氮氦混合气体,采用高精度热导池根据样品吸附氮分子前后的气体浓度变化,得到吸附峰或脱附峰,峰面积正比于氮气吸附量,应用直接对比法或BET理论计算出样品的比表面积大小。



DX400软件



北京精微高博仪器有限公司为您提供精微高博JW-DX400比表面积分析仪,精微高博JW-DX400比表面积分析仪产地为北京,属于国产比表面及孔径分析仪,除了JW-DX400比表面积分析仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供JW-M100A压裂支撑剂专用 真密度仪、DX磷酸铁锂专用 比表面仪(1小时28个样品)、DX硬碳负极专用 比表面积测试仪(1小时28个样品),北京精微高博客服电话400-801-5916,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训
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