型号: | OT-AFM |
产地: | 德国 |
品牌: | JPK |
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荣誉奖项: |
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OT-AFM---全球首款光镊-原子力显微镜联用仪
基于多年在纳米生命科学全球领先的光镊和原子力显微镜应用经验,JPK公司首次将这两种技术搭建在同一个倒置光学显微镜上面。光镊-原子力联用系统OT-AFM不仅具有AFM的表面成像与测力功能,还具有光镊系统最高灵敏度的三维测力性能。
集光镊三维高精度力学测量与操控和AFM高分辨率成像于一身的这套系统将开启一个全新的应用领域。这套联用系统不仅能满足最严格的机械稳定性的要求,还有非常高的灵敏性,模块化的设计。独特设计的联用平台是能将JPK光镊与AFM与细胞力谱仪集成于研究级倒置显微镜的关键所在。JPK在硬件和软件上具有非常成熟的与高端先进光学(如TIRF, Confocal,STED等)联用技术经验,我们可以很简单地将先进光学数据与光镊和AFM数据关联起来。在动态实验中,JPK AFM与光学数据同步采集而不相互干扰,因此这套联用系统能在力学测量中提供更多维度的操作空间。
这套联用系统OT-AFM可以应用于许多新的研究领域,包括:细胞内相互作用;细胞与细胞或细胞与基质相互作用;免疫反应;细菌\病毒感染和纳米颗粒的摄取过程等。JPK赖以成名的光镊和AFM技术,加上与荧光技术的联用,创立了活细胞研究领域的最高标准。
JPK公司首席技术官(CTO)Torsten J?hnke博士这样描述这个令人振奋的突破:“功能化颗粒或修饰的微生物触发细胞反应是常见的方法。基于AFM的方法也可以观察细胞的结构、动力学、机械性能的变化,但是将目标物运输到细胞特点区域还是非常难以实现的。光镊能在时间和空间上精准地操控细胞或触发细胞反应,从而能显著地提高这些研究的产出效率、重复性和灵活性。我们独特的OT-AFM系统已经定量研究了树突状细胞(DCs)与貝有调控性的T细胞(Treg)之间信号传导对一般性T细胞(Tconv)黏附于同一树突状细胞性能的影响。”
双焦面实时超高分辨系统Bruker3DVutura
多功能双光子成像平台Bruker2pplus
高品质双光子成像系统BrukerInvestigator
场扫描共聚焦成像系统BrukerOpterra II
布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI Premier
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
布鲁克三维光学显微镜Contour Elite
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan
探针式表面轮廓仪DektakXT
光学轮廓仪NPFLEX 3D
扫描探针显微镜系统Dimension Edge
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