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JPK 光镊-原子力显微镜联用仪

报价:¥300万 - 500万
型号: OT-AFM
产地: 德国
品牌: JPK
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核心参数
创新点
德国JPK公司的OT-AFM---光镊-原子力显微镜联用仪,全球创先实现高分辨原子力显微镜和高灵敏度力学测量的光镊结合。光镊-原子力联用系统OT-AFM不仅具有AFM的表面成像与测力功能,还具有光镊系统最高灵敏度的三维测力性能。这套联用系统OT-AFM可以应用于许多新的研究领域,包括:细胞内相互作用;细胞与细胞或细胞与基质相互作用;免疫反应;细菌\病毒感染和纳米颗粒的摄取过程等。JPK赖以成名的光镊和AFM技术,加上与荧光技术的联用,创立了活细胞研究领域的最高标准。1.全球首次实现光镊和原子力显微镜同步测量;2.可以实现飞牛至微/纳牛级别的精准力学测量;3.能够在对样品施加飞牛力学作用力下进行高分辨成像;4.利用光镊的操控能力,实现样品在悬浮状态下,进行AFM成像和力学测量
产品详情

OT-AFM---全球首款光镊-原子力显微镜联用仪

基于多年在纳米生命科学全球领先的光镊和原子力显微镜应用经验,JPK公司首次将这两种技术搭建在同一个倒置光学显微镜上面。光镊-原子力联用系统OT-AFM不仅具有AFM的表面成像与测力功能,还具有光镊系统最高灵敏度的三维测力性能。

集光镊三维高精度力学测量与操控和AFM高分辨率成像于一身的这套系统将开启一个全新的应用领域。这套联用系统不仅能满足最严格的机械稳定性的要求,还有非常高的灵敏性,模块化的设计。独特设计的联用平台是能将JPK光镊与AFM与细胞力谱仪集成于研究级倒置显微镜的关键所在。JPK在硬件和软件上具有非常成熟的与高端先进光学(如TIRF, ConfocalSTED等)联用技术经验,我们可以很简单地将先进光学数据与光镊和AFM数据关联起来。在动态实验中,JPK AFM与光学数据同步采集而不相互干扰,因此这套联用系统能在力学测量中提供更多维度的操作空间。

这套联用系统OT-AFM可以应用于许多新的研究领域,包括:细胞内相互作用;细胞与细胞或细胞与基质相互作用;免疫反应;细菌\病毒感染和纳米颗粒的摄取过程等。JPK赖以成名的光镊和AFM技术,加上与荧光技术的联用,创立了活细胞研究领域的最高标准。

       JPK公司首席技术官(CTOTorsten J?hnke博士这样描述这个令人振奋的突破:功能化颗粒或修饰的微生物触发细胞反应是常见的方法。基于AFM的方法也可以观察细胞的结构、动力学、机械性能的变化,但是将目标物运输到细胞特点区域还是非常难以实现的。光镊能在时间和空间上精准地操控细胞或触发细胞反应,从而能显著地提高这些研究的产出效率、重复性和灵活性。我们独特的OT-AFM系统已经定量研究了树突状细胞(DCs)与貝有调控性的T细胞(Treg)之间信号传导对一般性T细胞(Tconv)黏附于同一树突状细胞性能的影响。


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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)为您提供JPK 光镊-原子力显微镜联用仪OT-AFM,JPKOT-AFM产地为德国,属于进口扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM),除了JPK 光镊-原子力显微镜联用仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM),Bruker Nano Surfaces客服电话400-895-0897,售前、售后均可联系。
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