NT1100 产品手册

2008-06-06 13:24 下载量：134

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NT1100可对表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。小尺寸的NT1100可提供工业标准的Wyko光学轮廓仪所有的优点，包括完整的Vision32分析软件包。先进的光学元件可确保在所有放大倍数上具有亚纳米级的垂直分辨率。Data Stitching选配件增加了一个马达驱动的平台用于在一个更大的视场中进行高分辨率测量。NT1100给MEMS、厚膜、光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。

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文献贡献者

布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

白金会员 | 第20年

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