资料摘要
资料下载TappingMode™ imaging is a key advance in atomic force microscopy (AFM). This patented technique allows high resolution topographic imaging of sample surfaces including on surfaces that are easily damaged, loosely held to their substrate, or otherwise difficult to image by other AFM techniques. Specifically, TappingMode overcomes major problems associated with friction, adhesion, electrostatic forces, and other tip-sample related difficulties that can plague other AFM scanning methods.
文献贡献者
Veeco9月24号上海光学干涉表征技术研讨会邀请函
简介：全球领先测量仪器制造商美国Veeco公司，将于“2008中国国际轴承及其专用设备展览会”同期举办光学干涉表征技术研讨会。
NanoScope软件上的力谱数据分析
简介：The atomic force microscope (AFM) offers extraordinarily high resolution in force measurement applications, routinely yielding useful data down to the thermal noise floor of the cantilever, typically about 10pN. This along with the ease with which it is applied to many biological systems has made it a popular tool for studying such things as the specific interactions between biomolecules, the forces required to stretch polymeric molecules, and the forces that stabilize proteins. These sorts of applications have come to be collectively referred to as “force spectroscopy” applications.
E-Scope产品手册
简介：EnviroScope SPM 结合了模式化的环境控制器、密封样品池和多种成像模式于一体，为科学研究和工业应用提供了出色的应用适应性。系统带有高真空、气体和液体倾注和交换附件以及加热附件，环境控制池可以在一系列复杂的环境变化条件下观察样品的反应。基于工业标准的 Dimension 扫描头包含有压电扫描管、激光和四相限光学检测器，以确保成像效果和数据可靠性。
电化学扫描探针显微镜产品手册
简介：Veeco公司提供多种功能强大的电化学系统，它们的高分辨率、多适应性和易操作等特点使之适用于研究各种实时和原位的电化学过程。每种系统都是使用世界领先的DI NanoScope控制器和几种可供选择的SPM平台，其中包括高分辨率的DI MultiMode平台。 每种配置都具备 bipotentiostat / galvanostat，一个或多个液体池，以及电极附件。其中，电化学扫描隧道显微镜（ECSTM）能够在电化学控制下的溶液中对电极表面进行原子和分子级分辨率的扫描隧道成像；电化学原子力显微镜 （ECAFM） 可以在电化学控制下的溶液中对电极表面上进行纳米分辨率的成像；新型的扫描电化学电势显微镜使用Veeco独有的专利技术，可以在纳米分辨率上测量双电层的电势分布和成像电极表面的的电势和形貌。
D5000产品手册
简介：Dimension 5000 SPM具有对大样品的自动成像能力，使之在半导体和数据存储设备的制造过程中广泛使用，它能够测量直径达350 mm的样品上测量100多个区域。它具有原子力显微镜和扫描隧道显微镜的全部配置，可以在三维尺寸上探测缺陷、测量表面粗糙度和其它特征，测量过程对样品无损伤并且无需对样品进行预处理和修饰。
相关产品
双焦面实时超高分辨系统Bruker3DVutura
多功能双光子成像平台Bruker2pplus
高品质双光子成像系统BrukerInvestigator
场扫描共聚焦成像系统BrukerOpterra II
布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI Premier
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
布鲁克三维光学显微镜Contour Elite
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan
探针式表面轮廓仪DektakXT
光学轮廓仪NPFLEX 3D
扫描探针显微镜系统Dimension Edge
关注
拨打电话
留言咨询
