Lateral and Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction and Adhesion

2008-06-06 17:25 下载量：108

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Lateral Force Microscopy (LFM) is a scanning probe microscopy (SPM) technique that identifies and maps relative differences in surface frictional characteristics. Applied with contact mode atomic force microscopy (AFM), LFM is particularly useful for differentiating components of heterogeneous surfaces. Applications include identifying transitions between different components in polymer blends, composites and other mixtures; identifying organic and other contaminants on surfaces; delineating coverage by coatings and other surface layers; and using functionalized tips for chemical force microscopy.

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文献贡献者

布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

白金会员 | 第20年

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