扫猫探针显微镜概述

2008-06-27 17:11 下载量：204

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Scanning tunneling microscopy produced dramatic images of atomic lattices and atomic force microscopy broadened the technology to non-conductive surfaces. Development of atomic force microscopes has allowed scientists and engineers to see structure and detail with unprecedented resolution and without the need for rigorous sample preparation. Several advances have further extended this technique’s utility to a wide range of applications. Tapping Mode permits imaging of soft materials without damage to the sample and Lift Mode allows separate but simultaneous imaging of topography and other parameters, such as magnetic or electric forces, without cross-contamination. Phase Imaging has opened up the capability for mapping of surface compositional variations.

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文献贡献者

布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

白金会员 | 第20年

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