2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座

布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

2014/02/19 13:46

2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的眼和手。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。通过布鲁克2013年原子力显微镜测量技术一系列讲座，大家已经对AFM的基本原理及成像模式， AFM技术的发展进展，及其最新最先进的应用和功能，有了全面的了解。

在2013 年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的最后一讲，我们将重点介绍探针的基本信息以及如果合理选择AFM探针。在AFM的测量以及数据分析过程中，探针有着举足轻重的作用。合理选择探针，可以帮助操作者快速高效地获得高质量的实验数据。帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧；为用户更深入的研究工作打下良好的基础。

布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座往期精彩回放：

第一讲： 原子力显微镜简介及成像技巧 (点击观看精彩回放)

主讲人：李永君博士报告时间：2013年3月28日

第二讲：原子力显微镜在生物学研究中的应用进展 （点击观看精彩回放）

主讲人：龙飞博士报告时间：2013年4月16日

第三讲：原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展（点击观看精彩回放）

主讲人：仇登利博士报告时间：2013年5月21日

第四讲：利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征的最新进展（点击观看精彩回放）

主讲人：孙万新博士报告时间：2013年6月25日

第五讲：基于扫描探针显微镜的电学表征技术（点击观看精彩回放）

主讲人：孙昊博士报告时间：2013年7月9日

第六讲：如何合理选择AFM探针获取高分辨图像