资料摘要
资料下载X射线激发源、X射线管、侧窗管、端窗管、X射线探测器、正比计数器PC、闪烁计数器SC、半导体探测器、Si(Li) 探测器、Si-pin探测器、硅漂移探测器SDD、X射线滤光片、次级滤光片、初级滤光片、准直器、聚焦光学器件、索拉准直器、二次靶、偏振靶。
文献贡献者
有关XRF的常见术语和问答（4）
简介：单次测量的计数的标准偏差、单次测量的谱峰净计数的标准偏差、比率计数法的单次测量的计数的标准偏差、（X射线荧光光谱分析的）灵敏度S、（X射线荧光光谱分析的）检出限LOD、定量限LOQ、测量范围下限值和上限值、准确度、正确度和精密度的关系、测量准确度、测量仪器的准确度、测量正确度、测量精密度、重复性和复现性、期间精密度和稳定性的区别、[测量仪器的]重复性、测量重复性、测量复现性、期间测量精密度、测量仪器的稳定性、误差、绝对误差与相对误差、测量误差、绝对误差、相对误差、系统测量误差、随机测量误差、相对标准偏差RSD。 JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》的部分术语。
有关XRF的常见术语和问答（3）
简介：和峰、逃逸峰、光谱干扰、环境干扰、X射线衍射及布拉格定律、多层膜、能量分辨率、基体效应、吸收增强效应、物理化学效应、矿物效应、粒度效应、谱峰的识别和定性分析、半定量分析、定量分析、实验校正法、标准校准法、加入内标校准法、散射内标法、增量法、基体稀释法、薄膜法、数学校正法、经验系数法、理论影响系数法、基本参数法、标准化（漂移校正）、控制试样法、样品的制备及样品、样品的制备及样品与标样的一致性、理想待测试样应满足的条件、样品的基本展示形态、常用的制样方法、金属块状样品和其它块状材料：浇铸---切割---磨光或抛光或车制、粉末样品压片法、粉末样品熔融法。
有关XRF的常见术语和问答（1）
简介：X射线、韧致辐射、X射线荧光XRF、特征X射线、莫斯莱定律、俄歇效应：伴线、荧光效应：荧光产额、X射线与物质的相互作用、散射、瑞利散射、康普顿散射、X射线的吸收、X射线的吸收限、样品中元素的特征辐射的激发、临界厚度及无限厚、X射线荧光光谱法、X射线荧光光谱仪、X射线荧光光谱仪的分类、能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）、用正比计数器作探测器的能量色散X射线荧光光谱仪、用半导体探测器作探测器的能量色散X射线荧光光谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）、顺序式波长色散X射线荧光光谱仪、同时式波长色散X射线荧光光谱仪、顺序式与同时式相结合的波长色散X射线荧光光谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的比较。
DM2100型多元素分析仪
简介：本文详细介绍了DM2100型多元素分析仪从立项、设计、试制、用户使用到研制成功推向市场长达八年的历程，再现了本公司员工开拓进取艰苦卓越、刻苦认真、实事求是的精神。通过讲述从DM2100的初样到最终产品反复的过程，从而证明DM2100是在同档次中唯一得到广大用户认可的，能同时测量Al、Si、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。
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