产品简介:
使用K-MAC公司的先进光谱系统,可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口,并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建,而测量过程也仅需要基础的电脑知识。
产品特征:
1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
尺寸 |
190 x 265 x 316 mm |
重量 |
12Kg |
类型 |
手动的 |
测量样本大小 |
≤ 4" |
测量方法 |
非接触式 |
测量原理 |
反射计 |
特征 |
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射 |
活动范围 |
150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
测量范围 |
200Å~ 35㎛(根据膜的类型) |
光斑尺寸 |
20㎛ 典型值 |
测量速度 |
1~2 sec./site |
应用领域 |
聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质:
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
选择 |
参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) |
探头类型 |
三目探头 |
nosepiece |
Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
照明类型 |
12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
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