TVT 长程可见光-近红外相机测试系统
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TVT 长程可见光-近红外相机测试系统

参考价:¥80万 - 100万
型号: TVT
产地: 波兰
品牌: Inframet
评分:
核心参数
北京欧普特科技有限公司
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产品详情

产品介绍

TVT长程可见光-近红外相机测试系统是基于一个强度可调的光源,通过图像投影模块将一些标准的靶标投影到被测试的可见光-近红外相机,然后被测试的可见光-近红外相机生成带有畸变的图像,通过分析采集到的图像从而分析计算出相应的性能参数。TVT测试系统可以模拟黑夜(多云的夜晚)和特别亮的白天(正午的沙漠),**测试在不同照明条件下可见光-近红外相机的性能。

TVT测试系统主要由以下组件组成:DAL多通道标定光源、CDT反射式光管、一组可切换的折射式光管、一组靶标、旋转靶轮、PC、一组图像采集卡、测试/控制软件(DAL光源控制软件、SUB-V测试软件、TAS-V测试软件)。TVT测试系统推荐用于测试中长距离的可见光-近红外相机。

产品参数

测量功能:分辨率、**小可分辨对比度MRC、MTF、畸变、视场、灵敏度、信噪比、噪声参数(NEI、FPN、非均匀性、1/f噪声、3D噪声)、坏点及其分布、响应函数(响应率、线性度、动态范围)、色彩还原度。

参数

描述

平行光管

小视场离轴反射式光管 (典型口径 100mm, 150mm; 或200mm)

一组三个大视场折射式光管 (**大口径 70 mm)

光源口径

40   mm

光源工作模式

色温2856K的卤素灯,用于模拟黑夜和典型日间

色温超过5000K的白色LED,用于模拟非常亮的日间

光源亮度范围

10 mcd/m2 - 10 kcd/m2 – D (日间模式)

10 μcd/m2 - 10 kcd/m2 – DN (日间/夜间模式) (亮度范围可拓展)

模拟亮度范围

(近似值)

D日间模式: 30 mlx - 30 klx (0.003 fc-3000 fc)

DN日间/夜间模式: 30 μlx - 30 klx (0.000003 fc-3000 fc)

光谱范围

已标定光谱范围400-1000nm

光谱模式

a)宽带 b)仅VIS, c)仅NIR

靶标

一组6个不同对比度 USAF 1951 靶标,刀口靶,畸变靶,灰度靶,

PC 通讯接口

RS   232/USB 2.0 (控制光源和旋转靶轮)

支持输入格式

PAL,   NTSC, Fire Wire, USB 2.0/3.0, analog HD, Camera Link, LVDS, GigE, SDI, DVI,   HDMI

系统版本


1

2

3

4

5

6

7

序号

光照范围

光管

测试范围

图像采集卡

轴校准

模拟距离

评估软件

A

白天(DAL-D光源)

离轴反射式

基础:分辨率

无限远

B

白天/夜晚(DAL-DN光源)

反射式和一套折射式

标准:分辨率、MTF、畸变、视场、灵敏度、信噪比、NEI、FPN、非均匀性、1/f噪声

模拟视频采集卡(PAL/NTSC)

 

变焦/步距FOV物镜对准误差的测量

200m到无限远

Movis计算机程序

C



与B相同,增加MRC测量

增加软件支持USB2.0,3.0




D



超扩展:与C级相同,增加3D噪声,PVF, NPSD

增加:CL, GigE,   LVDS,CVBS,YpbPr,Coa-XPress, HDSDI, HD-CVI, HD-TVI, AHD, DVI, HDMI, Fire Wire




技术指标:

VIS-NIR可见光-近红外相机部分性能参数(仅示例,具体情况可能随配置而改变)

MRC测量重复性

优于6**

MRC测量不确定性

优于7**

resolution 测量重复性

优于8**

resolution 测量不确定性

优于9**

MTF测量重复性

优于0.01

MTF测量不确定性

优于0.02

Sensitivity测量重复性

优于8**

Sensitivity测量不确定性

优于10**

NEI测量重复性

优于8**

NEI测量不确定性

优于10**

SiTF 测量重复性

优于4**

SiTF 测量不确定性

优于8**

FOV测量重复性

优于1**

FOV测量不确定性

优于1.5**

3D Noise测量重复性

优于8**

3D Noise测量不确定性

优于10**

Uniformity测量重复性

优于8**

Uniformity测量不确定性

优于10**

magnification测量重复性

优于2**

magnification测量不确定性

优于3**

NPSD测量重复性

优于8**

NPSD测量不确定性

优于10**

Bad pixels 测量重复性

优于8**

Bad pixels 测量不确定性

优于10**

Distortion测量重复性

优于2**

Distortion测量不确定性

优于5**

SNR测量重复性

优于8**

SNR测量不确定性

优于10**

Responsivity function测量重复性

优于4**

Responsivity function测量不确定性

优于8**


北京欧普特科技有限公司为您提供InframetTVT 长程可见光-近红外相机测试系统,InframetTVT产地为波兰,属于进口其它光学测量仪,除了TVT 长程可见光-近红外相机测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其它光学测量仪,北京欧普特客服电话400-860-5168转0751,售前、售后均可联系。

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