SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统

SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统

参考价:¥30万 - 50万
型号: SIT
产地: 波兰
品牌: Inframet
评分:
核心参数
北京欧普特科技有限公司
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产品详情

SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器(或相机机芯)而开发的测试系统,能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器(硅、黑硅、InGaAs)的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数:相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*(比探测率)和空间噪声。

SIT测试系统是两个主要模块的总和:波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统(PC、图像采集卡、软件)。被测探测器位于SITO光源的输出端,传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射,被测探测器生产标准格式的图像,通过IPS系统采集并分析图像,确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。

 

产品参数

一般参数


工作温度范围

+5oC到+35oC

储存温度范围

-5oC 到+55oC

湿度范围

高90**(无冷凝)

重量

58kg

尺寸

173 x 43 x 28 cm


北京欧普特科技有限公司为您提供InframetSIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统,InframetSIT产地为波兰,属于进口其它光学测量仪,除了SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其它光学测量仪,北京欧普特客服电话400-860-5168转0751,售前、售后均可联系。

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