introduction

2007/10/12   下载量: 105

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检测项目
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In this news letter we will inform about how you can extract that extra information from your samples by combining Raman, FT-IR, NSOM (NearField Scanning Optical Microscopy) and AFM (Atomic Force Microscopy). We also have an interesting Raman application presented by conservator Cecilia Rönnerstam, National Museum of Fine Arts in Stockholm.

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