| 型号： | XStress 3000 .. |
| 产地： | 芬兰 |
| 品牌： | Stresstech Oy |
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Xstress 3000 G3残余应力测量仪根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体，适用于所有多晶体材料(包括陶瓷)。
Xstress 3000 G3残余应力测量仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
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