型号: | xstress3000----. |
产地: | 芬兰 |
品牌: | Stresstech Oy |
评分: |
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芬兰便携式Xstress3000残余应力检测仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究,还可作为在静力强度研究中测量结构及材料任意点变形的应力分析仪器。它以计算机为中央微处理机,采用高精度探测技术、数据准确和可靠,不需要水冷,方便安装和移动使用,系统灵敏度高,适合测量的材料范围广,配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力,便携方便,可在实验室和野外现场测量。
X射线衍射法是目前国际上比较流行准确的残余应力测量方法。芬兰应力技术有限公司(Stresstech Oy)生产的芬兰便携式Xstress3000残余应力检测仪其轻便精巧的设计扩展了设备的使用领域,使得设备能够走出实验室,在现场甚至户外的使用变得有效可行。
软件
◆ 操作系统: Windows
◆ X射线的发生和控制
◆ 实时监控高压系统
◆ 多种X射线曝光模式
◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作
◆ 多点曝光模式,互相关法计算峰位移
◆ 丰富的材料数据库
测角仪
◆ 倾斜和旋转
◆ 改进的y几何(侧倾法)
◆ 对称安装的双探测器
◆ 连续可调的2q角范围:117-170度
◆ 多种准直器可更换
◆ 全自动校准,自动调整测距,行程误差小于0.003mm
主机
◆ 结构紧凑,小巧轻便
◆ 全电脑控制
◆ 各种安全锁
◆ 密闭循环冷却系统,带强冷装置
◆ 各种接口
探测器
◆ 固态位敏正比计数器(MOS线性成像探测器)
◆ 灵敏度高,信噪比好
◆ 角精度0.029°/像素, 512像素
◆ 简洁紧凑,无需高压,功耗1mW
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