白光干涉仪-WLI

2009-04-27 21:32  下载量:70

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白光干涉仪器的测量原理及参数说明。 可以测量 高度反光、高吸光、粗糙型表面 -reflective as well as light absorbing and rough 也可以用来测量透明薄膜的厚度. 纳米级 粗糙度 测量 - 光学零件如镜片镜头 研究样品微观结构(如 MEMS,微型光学 微流体等)-microfluidics,microoptics 半导体工业 台阶高度的测量 各种材料的测量分析 (如金属,半导体,玻璃 塑料件,纸张, 油漆和涂层-coatings) 可以测量液态样品 on liquids

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