激光诱导击穿光谱

激光诱导击穿光谱

参考价:面议
型号: TSI 3000 LIBS
产地: 美国
品牌: TSI
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产品详情
原理: 高能激光把样品激发为气体, 气体进入分析的光学系统得到低浓度元素含量(低ppm级别)!
 
提供: 样品表面的二维(X-Y)元素分布和元素的深度(Z)分布.
 
优点: 检测范围广, 不需要样品前处理. 样品是固体就可以.
 
如果你正在使用XRF, AA, ICP, 你就可以考虑这先进的技术. 这就是美国宇航局在火星使用的技术.
 
快速,简单,直接分析: 全新设计的工业级元素分析系统可分析从氢(H)到铀(U)的元素,包括那些使用XRF(X射线荧光)和其它方法不能准确分析的轻元素在内。此外,它不需专业的大师级高级技术人员操作它–普通的技术员就可快速,简单地对其地进行校准和测量,并生成所需的分析报告。使用LIBS,无需进行一些耗时的样品前处理(如消解等),可以直接对样品进行分析。
技术简介: 该元素系统仪采用基于LIBS(激光诱导击穿光谱)技术的原理。其中高功率激光在待分析材料表面可产生明亮的火花(或等离子体),然后,携带样品信号的光被独特的光谱仪和检测系统检测。元素的荧光直接与待分析材料的元素浓度相关。与其它元素分析的技术相比,LIBS所具有的超强分析性能优势相当明显。特别是,它对材料中存在的绝大多数元素(包括一些其它技术不能检测的重要低原子序数元素如氢和碳)都相当灵敏。由于几乎无需进行样品前处理,从而使分析效率显著提高,大大降低了分析成本。可以同时检测所有元素的浓度,分析时间约20秒,这与其它分析技术相比,具有显著优势。
 
皆能(亚洲)有限公司为您提供激光诱导击穿光谱TSI 3000 LIBS,TSITSI 3000 LIBS产地为美国,属于其它光谱仪,除了激光诱导击穿光谱的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供快速全自动三合一样品前处理系统、便携式高清X射线荧光光谱仪、台式XRF元素分析仪,皆能客服电话,售前、售后均可联系。

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