6英寸晶圆检测显微镜：可靠观察细微高度差异
简介：电子和半导体行业如何从用于半导体组件检测的自动化和可重复的DIC显微镜中受益 在半导体器件生产过程中，晶圆检验对于识别和减少可能影响器件性能的缺陷至关重要。为了提高检验的精确性和效率，光 学显微镜方案应结合不同的对比方法，提供关于图案化晶圆上可能存在的任何缺陷的准确可靠信息。其中，在晶圆检验中起 重要作用的一种对比方法是微分干涉对比（DIC）。
晶圆上的光刻胶残留和有机污染物的可视化
简介：电子行业如何通过使用荧光显微镜对晶圆和半导体进行检测？无论是质量控制、失 效分析和研发都能从中受益 对更强大、更快速的电子设备（智能手机、计算机、平板电脑、显示器等）的需求不断增长，这推动了集成电路（IC）芯片 和半导体组件的图案尺寸缩小到10纳米以下[1-3]。为了实现更小的纳米级尺寸，紫外光刻图案化步骤的数量已经增加，随 之而来的是刻蚀过程中的缺陷和有机污染的可能性增加[2]。这种残留污染可能对工艺控制、产量以及电子组件的性能和可 靠性产生负面影响
白内障显微镜购买指南
简介：白内障手术已成为最常见的眼科手术之一。现代白内障手术依赖于显微镜，这些显微镜增强了外科医生的可视化能力，使他 们能够看清白内障是否已完全去除，并帮助正确放置人工晶状体。眼科显微镜也已成为手术室工作流程的重要组成部分，有 助于提高效率。 如果您正在考虑为白内障手术投资一台新的眼科显微镜，本指南将提供建议，帮助您做出明智的决策，确保其长期适用性。
材料分析介绍
简介：偏振光显微镜（又称为偏光显微镜） 是一种应用于不同领域的重要方法，包括研究和质量保证。它不仅仅是在高倍率和高分辨率下产生图像，这通 常是用普通光学显微镜完成的。 通过检查样本的形状、结构、颜色、双折射和进一步的光学性质，可以获得有关样本结构、光学性质和成分的附 加信息。 偏振光显微镜在地球科学和各个行业的质量控制中有着广泛的应用： 地球科学：地质学、岩石学、矿物学、晶体结构表征、石棉分析和煤分析（镜质体反射率） 质量控制：玻璃（应力双折射或夹杂物）、塑料和聚合物（应力双折射）、纺织品和纤维、电子显示器和液晶检查。
清洁度分析解决方案需考虑的因素
简介：技术清洁度，电子和半导体行业，汽车&交通，激光诱导击穿光谱技术（LIBS） 关联清洁度分析系统、DM4M&6M，LIBS产品页；清洁度分析流程应用页面； 清洁度分析主题的网络课堂&资料
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