资料摘要
资料下载Advanced Measurement Technology Inc.是美国阿美特克(AMETEK)集团的子公司，旗下拥有ORTEC，Princeton Applied Research(PAR) 和Signal Recovery三个品牌。 ORTEC原隶属于美国EG&G公司, 现隶属于美国AMETEK集团公司。公司位于美国田纳西州的原子城—橡树岭，由美国橡树岭国家实验室的科学家和工程师于1960年创建。自公司成立至今，ORTEC就一直是世界上最主要的核测量技术的研发者和仪器设备的制造者，其产品和技术代表着当今世界上这一领域的最先进水平。 普林斯顿应用研究Princeton Applied Research(PAR)原隶属于美国EG&G公司现隶属于美国AMETEK集团公司。PAR专业从事用于材料特性研究,电化学, 腐蚀,交流阻抗测试仪器的设计、生产已有40年的历史, 一直处于世界领先地位, 提供全套的恒电位/恒电流仪,阻抗分析仪, 微区扫描成像系统, 电解池及附件, 以恒电位仪为核心,加上不同的应用软件,附件和电极便可构成不同的电化学测试系统,满足不同的研究与应用的需要。 Signal Recovery 原隶属于美国EG&G公司现隶属于美国AMETEK集团公司。是专业从事微弱信号检测、处理相关产品的制造商。其锁相放大器、光学斩波器、BOXCAR等始终处于行业的领先水平。 公司网址：www.ametek-online.com www.ortec-online.com www.princetonappliedresearch.com www.signalrecovery.com
文献贡献者
输力强光电测试系统DSSC
简介：输力强光电测试系统DSSC样本，包含Modulab模块及光学平台，测试方法包含：IMPS,IMVS,EIS,I-V，电荷抽取等。
ModuLab MTS 材料电特性测试系统
简介：ModuLab MTS(材料电特性测试系统)是模块化的，完全整合的研究系统，可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术，如恒定电流，通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学性能；又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理；并且仪器提供一系列可选模块，扩展了测试范围，如高电压、样品/参比、功率放大器和低电流测试；高/低温系统及样品架配件更提高了其测试能力。系统有两种尺寸配置，满足不同预算，可以配合您的研究，为您量身定做，适应和拓展您的研究深度和广度。
能源应用测试软件介绍
简介：全新的能源研究专业应用软件，成功的整合于VersaStudio 软件平台之中，提供一整套定制的实验方法和模板，致力于能源研究和开发领域的应用，尤其是电池，燃料电池和电容器等。
VersaSTAT系列多功能电化学工作站
简介：VersaSTAT 是一款由普林斯顿应用研究集50 多年在电化学测试仪器专业制造的技术和经验上研发的电化学综合测试仪。VersaSTAT 支持进行全面的电化学技术测试；配备功能强大、使用方便的VersaStudio 软件，使VersaSTAT 成为现今市场上极具性价比的电化学工作站。 高性能的VersaSTAT 电化学综合测试仪 将为您的科研带来极大的方便 ～±650mA(V3 、V3F）,±1A（V4 ）电流范围 ～±10V 的电压极化范围，支持多数电化学应用、腐蚀、传感器、生物电化学； ～2A 电流输出可选，最大到20A 电流放大器，支持化学电源、燃料电池、电镀等应用对大电流的要求； ～良好的电流测试精度，可用于腐蚀、涂层评价以及微电极分析； ～内建FRA 频响分析仪(可选)，支持电化学阻抗测试，频率范围10μHz-1M Hz； ～浮地选项（VersaSTAT 3F）； ～标配Versa Studio 软件支持全系列单通道及多通道电化学综合测试仪，包括小电流附件、大电流扩展和电流放大设备； ～各种系统综合性的软硬件完美结合，新增能源应用软件，使Studio 可以致力于各个领域中的研究，并且通过不同的预算不断升级；
VersaScan微区扫描电化学工作站 样本
简介：VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。 它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。 它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试： Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜 Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试 Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试 Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试 Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试 Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试 以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。
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