应用织构极图研究ZnO外延膜的晶体取向特征

2008/04/08   下载量: 401

方案摘要

方案下载
应用领域
检测样本
检测项目
参考标准

用MOCVD法在蓝宝石衬底上生长ZnO外延膜。用理学D/max 2550转靶衍射仪测量ZnO外延膜织构。观察到试样存在两种晶体取向关系:ZnO[11-20]//Al2O3[10-10]及ZnO[10-10]//Al2O3[10-10]。计算得到晶格取向极点分布平均半高宽为12.26O,且前一种取向晶体的数量是后者的13倍。探讨了两种取向的热力学稳定性。给出了外延膜取向特性的逐层分析结果。

方案下载
配置单
上一篇 北京理化赛思:应用织构极图研究ZnO外延膜的晶体取向特征
下一篇 桦褐孔菌X射线衍射Fourier图谱的鉴定

文献贡献者

相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置: 北京理化赛思 方案 应用织构极图研究ZnO外延膜的晶体取向特征

关注

拨打电话

留言咨询