方案摘要
方案下载应用领域 | 地矿 |
检测样本 | 非金属矿产 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
应力测试也是无机材料分析的重要方面,目前微区应力分布测试主要手段是EBSD,通过测试取向差的分布来间接的反应。但是EBSD分析手段又有一定的局限性,拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力,特征峰会往高波数方向移动;反之,若存在拉伸应力,特征峰会向低波数方向移动。且应力越大,特征峰的位移越大。
RISE系统的拉曼成像能力非常强大,可以用特征谱线的位移来进行成像。如下图,对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区,特征峰往高波数方向移动,周边往低波数方向移动。根据此规律成像后,得到了纳米压痕区域,硅表面的压缩和拉伸应力分布图。
石灰岩酸性环境下的腐蚀反应和实时动态变化过程
TESCAN电镜应用之医学组织细胞的颗粒度分析
TESCAN电镜应用之晶相样品的颗粒度分析
相关产品
TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
TESCAN 高分辨率三维 X 射线显微镜
TESCAN 多分辨率 3D X射线显微成像系统
TESCAN 四维 X 射线显微镜
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN 集成矿物分析仪系统
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN MIRA 场发射定制版扫描电镜(AMU)
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)
TESCAN VEGA COMPACT 钨灯丝扫描电镜
关注
拨打电话
留言咨询