VK-X100/X200 形状测量激光显微系统

VK-X100/X200 形状测量激光显微系统

参考价:面议
型号: VK-X100/X200
产地: 日本
品牌: 基恩士
评分:
核心参数
创新点
VK-X100/X200集显微镜· SEM · 粗糙度仪的功能于一身,1 台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量. ①以下问题全部得到改善:光学显微镜提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。SEM前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。粗糙度仪不能够实现一边放大观察,一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。 ②创新功能: (A)兼顾高速· 高精度的图像连接WIDE-Scan 。最大放大24000倍,完全聚焦的清晰图像,测量结果符合国家标准溯源性。16bit激光彩色观察。非接触式设计,工件软硬兼可用。 (B)全自动测量AI-Scan:在全部的高度实现最佳调整,自动上下限设置,双扫描功能。对拍摄到的图像可自由测量。
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