型号: | X_Strata960 |
产地: | 美国 |
品牌: | |
评分: |
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CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定*多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点*小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
程控样品台:XYZ轴自动控制。
超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:
全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品*大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品*大高度为270mm。
全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品*大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
CMI900/950主要技术规格如下:
No. 主要规格 规格描述
1 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
X射线管功率可编程控制
装备有*防射线光闸
2 滤光片程控交换系统 根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
3 准直器程控交换系统 *多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,*大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5 X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室 CMI900 CMI950
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
-*大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
任选:50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm 300mm x 300mm
-Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm
XY轴手动时,269.2mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
-样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光辅助光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7 计算机系统配置 IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8 分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台
中文分析软件包:SmartLink FP软件包
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围
-基本分析功能 无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
组成分析时,可同时测定15种元素
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移
谱峰计数时,峰漂移自动校正功能
谱峰死时间自动校正功能
谱峰脉冲堆积自动剔除功能
标准样品和实测样品间,密度校正功能
谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
-测量自动化功能
(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能
(要求XY程控机构) 设定测量点
One or Two Datumn (reference) Points on each file
测量位置预览(图表显示)
-统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表
直方图
数据库存储功能
-系统*监测功能 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器
操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
-任选软件 统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
材料鉴别和分类检测
材料和合金元素分析
贵金属检测,如Au karat评价
No. 主要规格 规格描述
1 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
X射线管功率可编程控制
装备有*防射线光闸
2 滤光片程控交换系统 根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
3 准直器程控交换系统 *多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,*大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5 X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室 CMI900 CMI950
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
-*大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
任选:50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm 300mm x 300mm
-Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm
XY轴手动时,269.2mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
-样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光辅助光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7 计算机系统配置 IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8 分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台
中文分析软件包:SmartLink FP软件包
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围
-基本分析功能 无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
组成分析时,可同时测定15种元素
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移
谱峰计数时,峰漂移自动校正功能
谱峰死时间自动校正功能
谱峰脉冲堆积自动剔除功能
标准样品和实测样品间,密度校正功能
谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
-测量自动化功能
(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能
(要求XY程控机构) 设定测量点
One or Two Datumn (reference) Points on each file
测量位置预览(图表显示)
-统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表
直方图
数据库存储功能
-系统*监测功能 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器
操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
-任选软件 统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
材料鉴别和分类检测
材料和合金元素分析
贵金属检测,如Au karat评价
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定*多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点*小可达0.025 x 0.051毫米。
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