型号: | MProbe NIR |
产地: | 德国 |
品牌: | Semiconsoft |
评分: |
|
产品概述
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标:薄膜厚度,光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。
相关产品
布鲁克Bruker 手持光谱仪 X荧光光谱仪 S1 TITAN 合金矿石土壤元素分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪 Q2 ION
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
Dektak XT台阶仪-表面轮廓仪
工业CT通用检测系统XRH222
布鲁克 艺术与考古分析仪Tracer
布鲁克Bruker 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
能量色散型X荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克 能量色散X射线荧光光谱仪 ELIO ELIO
科研手持XRF光谱仪 TRACER 5g/手持光谱仪
布鲁克 光学轮廓仪ContourGT-X
DANTE数字脉冲处理器
Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
布鲁克 手持式矿石分析仪S1 TITAN
布鲁克Bruker 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO PLUS
关注
拨打电话
留言咨询