资料摘要
资料下载微区X射线荧光光谱M4 TORNADO分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的很好方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域，以获得很好的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了很好的分析性能和非常方便的操控性。
文献贡献者
台阶仪在晶圆测试的应用
简介：Bruker Dektak-XT接触式表面轮廓仪（台阶仪）作为Dektak系列第十代产品，经过50多年的更新升级及技术创新，目前已成为使用广泛的接触式表面检测设备，有着众多的用户群体并得到好评。
布鲁克Dektak 探针轮廓仪介绍应用
简介：Dektak XT 是使用single-arch 设计的探针轮廓仪， single-arch 设计及智能电子器件，大大改善了设备稳定性，进一步提高防震性能。Dektak XT在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现，台阶高度重复性可低于4A。
手持式Tracer X射线荧光分析仪在农业科学研究中的应用
简介：研究营养的吸收、植物处理效果和有毒金属污染，还有其它研究如提高农作物品质、营养及产量，都需要能够测量轻元素并能进行精细的光谱分析的X射线荧光分析仪。元素分析的成本效益高且实用性强，Tracer X射线荧光光谱仪系统是完全便携式的，可以用来在野外和实验室对轻元素和重元素进行研究。每个样品的分析成本相比外部实验室服务的成本大大减少，而且等待结果的时间不长。Tracer提供百分百的无损分析，不管进行多少次试验,样品都不会有任何变化。Tracer可以让用户设计独特的方法和校准Calibration，来用于研究，并适应于日常的Point-and-shoot点测。布鲁克有非常专业的XRF技术专家，非常清楚其在表面成分分析和体积测量之间细微区别，他们可以提供帮助服务。
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