仪器简介:Talysurf CCI三维非接触形貌仪采用CCI(专利技术的相干相关算法)干涉原理,可高精度测量表面形貌、表面粗糙度及关键尺寸,并计算关键部位的面积和体积。主要应用于数据存储器件,半导体器件,光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域。
技术参数:(1) 类型: CCI 干涉(相干相关干涉)
(2) 分辨率: 0.1 A
(3) 测量点数: 1,048,576 ( 1024 x 1024 点阵 )
更详细参数和有关应用问题请垂询办事处产品负责人。
主要特点:•专利的相干相关算法
•0.01nm分辨率
•10-20秒测量时间
•RMS重复性:0.03A
泰勒-霍普森有限公司为您提供Talysurf CCI白光干涉表面轮廓仪,nullTalysurf CCI产地为英国,属于轮廓仪,除了Talysurf CCI白光干涉表面轮廓仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多轮廓仪,泰勒-霍普森客服电话,售前、售后均可联系。